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GS1770B回路電阻測(cè)試儀在測(cè)量高壓開(kāi)關(guān)導(dǎo)電回路接觸電阻時(shí)，由于受到油膜和動(dòng)靜觸頭間氧化層的影響，測(cè)量值偏大若干倍，掩蓋了真實(shí) 的接觸電阻值。
更新時(shí)間：2025-04-14 訪問(wèn)次數(shù)：842
HR-4A回路電阻測(cè)試儀是按國(guó)標(biāo)GB763--90，應(yīng)用直流降壓法測(cè)量高壓開(kāi)關(guān)的接觸電阻和回路電阻而研制生產(chǎn)的，該儀器是在WOJ—Ⅱ的基礎(chǔ)上加以改進(jìn)，采用*高頻開(kāi)關(guān)電源為儀器提供大于200A的直流測(cè)試電流。
更新時(shí)間：2025-04-14 訪問(wèn)次數(shù)：1239
GD-100A回路電阻測(cè)試儀適用于各種斷路器、GIS、母排、焊縫、電線電纜等設(shè)備接觸電阻的測(cè)量，輸出電流100A，可延時(shí)至120秒，有輸出電流指示功能，儀器本身具有選相及輸出電流選時(shí)功能
更新時(shí)間：2025-04-14 訪問(wèn)次數(shù)：979
RHL-200A型回路電阻測(cè)試儀是公司根據(jù)IEC標(biāo)準(zhǔn)及國(guó)家有關(guān)規(guī)定，發(fā)揮自身技術(shù)優(yōu)勢(shì)，精心研制的高精度、數(shù)字化開(kāi)關(guān)檢測(cè)儀器。該儀器采用正弦波逆變器、大功率恒流開(kāi)關(guān)電源技術(shù)，可測(cè)得微歐姆級(jí)接觸電阻。廣泛適用于各種開(kāi)關(guān)及電器的接觸電阻、回路電阻及電纜電線、焊縫接觸電阻的測(cè)量。
更新時(shí)間：2025-04-14 訪問(wèn)次數(shù)：965JL2006-200A回路電阻測(cè)試儀（彩屏、帶打印）采用32位ARM內(nèi)核作為處理的核心，對(duì)整機(jī)進(jìn)行控制，自動(dòng)完成自校、穩(wěn)流判斷、數(shù)據(jù)處理、阻值顯示等功能，可測(cè)量各種高壓開(kāi)關(guān)及電器的接觸電阻、回路電阻和變電站母線電阻，電力線接點(diǎn)電阻，焊縫接觸電阻。JL2006-200A回路電阻測(cè)試儀體積小、重量輕，很大的方便了工作人員的使用。
更新時(shí)間：2025-04-14 訪問(wèn)次數(shù)：923
HN-200A回路電阻測(cè)試儀采用國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)推薦的直流100A和200A。可在電流100A的情況下直接測(cè)得回路電阻，也可以在電流200A的情況下直接測(cè)得回路電阻，Z后的測(cè)試結(jié)果都用數(shù)字顯示出來(lái)。
更新時(shí)間：2025-04-14 訪問(wèn)次數(shù)：829
JHHP-200A高精度回路電阻測(cè)試儀電力、供電部門現(xiàn)場(chǎng)高壓開(kāi)關(guān)維修和高壓開(kāi)關(guān)廠回路電阻測(cè)試的設(shè)備; 參考標(biāo)準(zhǔn)：DL/T845.4-2004 電流可在50A，100A，150A，200A中自由選擇，100A、200A的情況下直接測(cè)得回路電阻; 電源技術(shù)，能長(zhǎng)時(shí)間連續(xù)輸出大電流; 高頻開(kāi)關(guān)電源技術(shù)和數(shù)字電路技術(shù)相結(jié)合設(shè)計(jì)。
更新時(shí)間：2025-04-14 訪問(wèn)次數(shù)：996
JHHL-200A回路電阻測(cè)試儀接觸面氧化、接觸緊固不良等原因?qū)е陆佑|電阻增大，在大電流流過(guò)時(shí)，接觸點(diǎn)溫度升高，這更加速接觸面氧化，使接觸電阻進(jìn)一步增大，持續(xù)下去將產(chǎn)生嚴(yán)重事故，因此有必要經(jīng)?；蚨ㄆ趯?duì)接觸電阻進(jìn)行測(cè)量。
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NDHL-200A回路電阻測(cè)試儀適用于開(kāi)關(guān)控制設(shè)備回路電阻的測(cè)量。其測(cè)試電流采用國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)推薦的直流100A和200A。
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HYHLY-200A回路電阻測(cè)試儀采用微型單片機(jī)控制，人性化漢字界面顯示，它是用于開(kāi)關(guān)控制設(shè)備的接觸電阻、回路電阻測(cè)量的設(shè)備；其測(cè)試電流采用國(guó)家標(biāo)準(zhǔn)GB763推薦的100A/200A直流，直接測(cè)得回路電阻或者接觸電阻，*測(cè)試時(shí)間設(shè)置
更新時(shí)間：2025-04-14 訪問(wèn)次數(shù)：975
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